系統整合晶片測試
京元電子能夠為 ASIC 和 ASSP 等複雜的系統整合晶片 (SoC) 產品，提供全套的測試、診斷、驗證、區分特性和除錯服務。我們的高效測試流程是依序按照測試區塊執行的，以確保100％的電性測試。我們能夠設定測試速度，不良品定義，診斷選項和測試時間以確保所有操作條件都得到重現，並且所有的不良品都可被測試出來，並完全除錯。
我們提供完整的測試平台，以支持各種系統整合晶片測試 (SoC) 測試要求。測試平台詳見下表：
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供 應 商 |
型 號 |
速 度 |
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Advantest |
V93000 |
200 Mbps ~ 16 Gbps |
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T2000 |
500/800/1600 Mbps |
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LTX-Credence |
Quartet |
200 MHz |
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D10/DiamondX |
200 Mbps |
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ITS3000 EXA |
200 MHz |
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Sapphire |
400 MHz |
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Teradyne |
Catalyst |
200 MHz |
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Integra Flex |
200 MHz |
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Ultra Flex |
800/1000/1600 Mbps |
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J750/J750EX |
100 MHz /200 MHz |