測試服務
京元電子為晶圓測試解決方案提供廣泛的測試平台。測試溫度範圍為-55°C至150°C，能夠測試5, 6, 8和12吋晶圓。對於CIS / CCD產品，測試環境為class 10 及class 100，對於其他產品，測試環境為class 1,000。
其他服務包含：
- Laser Repair 雷射修補
- Wafer Level Burn In Test 晶圓級老化測試
- Wafer Level Cycling Test 晶圓級溫度循環測試
內部自行維修保養探針卡
- 懸臂式探針卡、垂直探針卡及微機電元件探針卡
- 高並行性探針卡，高達256個受測裝置 (DUT)
- 高腳數探針卡，超過20,000個探針
- 細間距探針卡，最小間距達49微米 (μm)
- 探針卡分析裝置: 如：PRVX3/4, PB6500
