测试服务
京元电子为晶圆测试解决方案提供广泛的测试平台。测试温度范围为-55°C至150°C，能够测试5, 6, 8和12吋晶圆。对于CIS / CCD产品，测试环境为class 10 及class 100，对于其他产品，测试环境为class 1,000。
其他服务包含：
- Laser Repair 雷射修补
- Wafer Level Burn In Test 晶圆级老化测试
- Wafer Level Cycling Test 晶圆级温度循环测试
内部自行维修保养探针卡
- 悬臂式探针卡、垂直探针卡及微机电元件探针卡
- 高并行性探针卡，高达256个受测装置 (DUT)
- 高脚数探针卡，超过20,000个探针
- 细间距探针卡，最小间距达49微米 (μm)
- 探针卡分析装置: 如：PRVX3/4, PB6500
