系统整合晶片测试
京元电子能够为 ASIC 和 ASSP 等复杂的系统整合晶片 (SoC) 产品，提供全套的测试、诊断、验证、区分特性和除错服务。我们的高效测试流程是依序按照测试区块执行的，以确保100％的电性测试。我们能够设定测试速度，不良品定义，诊断选项和测试时间以确保所有操作条件都得到重现，并且所有的不良品都可被测试出来，并完全除错。
我们提供完整的测试平台，以支持各种系统整合晶片测试 (SoC) 测试要求。测试平台详见下表：
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供 应 商 |
型 号 |
速 度 |
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Advantest |
V93000 |
200 Mbps ~ 16 Gbps |
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T2000 |
500/800/1600 Mbps |
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LTX-Credence |
Quartet |
200 MHz |
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D10/DiamondX |
200 Mbps |
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ITS3000 EXA |
200 MHz |
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Sapphire |
400 MHz |
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Teradyne |
Catalyst |
200 MHz |
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Integra Flex |
200 MHz |
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Ultra Flex |
800/1000/1600 Mbps |
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J750/J750EX |
100 MHz /200 MHz |