测试技术支援
测试解决方案提供者
京元电子可以提供完整的测试解决方案，减少客户的产品设计、量产，上市和测试周期的时间。京元电子在测试上的灵活性可满足新产品导入和量产的需求，包括：
ㄧ. 测试程式开发和产品特性
京元电子的测试程式开发和技术服务团队，提供行业首屈一指的创新研究和工程技术能力。京元电子有能力参与客户产品设计，协助客户能够轻松掌握产品上市时间和成本效益的解决方案。
提供的服务范围包括：
- 测试规格验证
- 测试程式开发
- 产品特性分析
- 产品/测试 关联性分析
- 测试程式发布
上述服务可在所有测试平台中使用，
包括下列产品测试：
- 记忆体产品
- 数位及混合讯号产品
- 影像感光元件
- 射频/无线元件
- 显示屏驱动器
- 微机电系统
二. 测试平台转换
京元电子的测试平台能够接受 Verilog HDL、WGL、STIL等不同的测试格式。通过京元电子自行开发的工具，以及测试技术专业知识，我们能够将各种测试模式转换为选定的测试平台。我们提供的服务包括：
- 故障模拟
- 测试模式合成
- 测试模式转换为选定的测试平台
三. 测试硬体设计和制造
我们根据客户要求，为探针卡、测试载板和其他配件提供完整和客制化的设计解决方案。我们提供的服务包含:
- 机电设计布局
- 探针卡设计和制造
- 测试载板设计和制造
- 插槽设计和制造
- 转换套件设计和制造
京元电子还通过计划性维修保养程序，对所有可维修零件拥有完全控制。
四. 测试资料管理
京元电子能够构建客制化的测试资料回馈系统，自动将数据传输给客户。根据客户要求，这些测试资料至少可以保存3年或更长时间。京元电子 IT团队提供以下重要服务：
- 远端存取权限
允许客户登录测试机台工作站以执行调试、修复及上传功能。 - 自动化档案传输协定 (FTP) 及虚拟工厂 (e-Fab)
测试资料定期通过FTP格式传输，客户也可以使用指定用户名和密码登录，直接进入京元电子的e-Fab服务器下载测试资料。
五. 测试资料/良率分析
京元电子使用以下三种方法去监控测试流程
- 传统的流程卡
根据客户良率标准检查所有项目，并手动记录数据。 - 线上监测系统 (OMS)
自动监控测试良率、特殊Bin控制 (SBC) 和测试资料不平衡，发现问题之后可以提醒操作人员，并按照步骤排除故障。 - 测试资料管理系统
京元电子主要的测试资料管理系统，系根据客户规格提供良率监控、资料传输和所有其他要求。