京元电子 虚拟工厂
记忆体产品测试 消费性电子产品 逻辑/混合讯号产品测试 液晶显示面板驱动器 CIS/CCD 产品 无线射频元件测试 系统整合晶片测试 微机电系统(MEMS)测试 生物晶片测试 测试技术支援

京元电子提供完整系列的测试平台,足以满足CIS影像感测器的生产测试要求。我们的解决方案包括:CMOS影像感测器、DPS/ Embedded DRAM像素感测器、CCD感光耦合元件(Charge-coupled Device, CCD)、高解析度影像感测器、高速影像感测器和高度整合度影像感测器。我们测试产品的最终应用,主要是:相机、各式手机、数位相机和数位录影机。

京元电子在CMOS高解析度影像感测器方面拥有丰富的经验,能够开发测试程式,以及探针卡和负载板 (Load Board) 的设计和制造。测试技术解决方案包括:

  • Pupil模组解决方案
  • CSP FT测试解决方案
  • 区域影像感测器的高度平行测试解决方案 (High parallelism test solution for area image sensor)
  • 低温测试解决方案
  • Light sensor 测试决方案

我们提供完整系列的测试平台,以支持各种CIS/CCD元件测试要求,详见下表:

供  应  商

型      号

速      度

Teradyne

IP750EMP / IP750EX

100MHz / 200MHz

京元电子自行研制之测试设备

I1000 / I2000 / I6000 / I7000

100MHz / 200MHz / D-Phy 3.0Gbps /            C-Pphy 1.5Gsps / HISPI 1.5Gbps

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